+7 (800) 505-25-16


194044, Россия, Санкт-Петербург, Большой Сампсониевский проспект, д. 64, лит. Е, пом. 2-Н


OMSYE01 Микроскопы для стыковки волокна и фотонных схем

Инспекционные микроскопы предназначены для изучения поверхности полупроводниковых пластин, печатных плат и электронных компонентов.

Объектив расположен над поверхностью образца. Поэтому важнейшим параметром является рабочее расстояние объектива, позволяющее изучать элементы, расположенные на разной высоте.

Высокая чувствительность позволяет с максимальной точностью и быстротой проводить диагностику образца.

Модельный ряд
Отменить все фильтры
Фото
Модель
Тип микроскопа
Микроскоп для контроля микроэлектроники
Увеличение
5 - 50X
Тип сенсора
1/1,8" CMOS
Стоимость с НДС*
по запросу
  • по запросу
Основные параметры серии OMSYE01
Диапазон измерения, мм 200х150х150
300х200х150
400х300х150
Предметный столик, мм
(Алюминиевый)
400х280
500х350
600х500
Предметный столик, мм
(Стеклянный)
245х192
350х250
450х350
Максимальная нагрузка, кг 15
Точность измерений по осям Х и Y (3+L/200) Точность измерений по оси Z (опционально) (5+L/200)
Повторяемость 2 Разрешение экрана, мм 0,001
ПЗС-матрица Цветная камера высокого разрешения: 6,3 млн.пикс. 1/1,8”
Интеллектуальная измерительная камера HDMI
Ручная фокусировка Грубая (40 мм/оборот) и точная (0,02 мм/оборот) регулировка
Левая и правая рукоятки
Ход по оси Z - 150 мм
Система освещения
Отражение: система освещения Келлера, белые светодиоды 5 Вт
Пропускание: белые светодиоды 5 Вт
Поляризатор
Прямое смещение, детектор смещения
Компьютер
8G / 500G / DVD / клавиатура / мышь / +21,5 ЖК-дисплей
ПО
Функции двумерного геометрического измерения включают в себя: измерение расстояния между двумя точками, расстояния от точки до прямой линии, углов, расстояния между центрами кругов, отображение пересечения линий
Калибровка
Вставка поляризатора, вставка, вращающаяся на 360°
Источник питания
90 ~ 240 В, 50 Гц
Масса, кг
320 Дополнительные аксессуары
0,5X интерфейс CTV
Дифференциальный интерферометр DIC
Объектив 100X (бесконечное светлое поле), 100X / 0.80 WD 2,1 мм (опционально)


Контрольно-измерительная система


Оптическая система Система с бесконечной коррекцией хроматических аберраций
Тринокулярная наблюдательная трубка Коэффициент разделения 50 : 50, интерфейс CTV 0,65X
Окуляр С плоским полем зрения и высокой точкой зрения PL 10X / 22 (с перекрестной шкалой)
Объектив 5X (полупроводниковый объектив светлого поля), 5X/0,15 WD, 44 мм
10X (полупроводниковый объектив светлого поля), 10X/0,3 WD, 34 мм
20X (полупроводниковый объектив светлого поля), 20X/0,35 WD, 29 мм
50X (полупроводниковый объектив светлого поля), 50X/0,5 WD, 17 мм
Стоимость указана:
  • С учетом НДС.

  • Без учета доставки от Поставщика к Заказчику.

  • Без учета затрат на участие в закупочных процедурах по ФЗ 223 и ФЗ 44.

  • Для 100% предоплаты. В случае необходимости другого способа оплаты, стоимость будет пересчитана.