OMSYE01 Микроскоп для стыковки волокна и фотонных схем, микроскоп для контроля микроэлектроники

Увеличить

Цена по запросу

Инспекционные микроскопы предназначены для изучения поверхности полупроводниковых пластин, печатных плат и электронных компонентов.

Объектив расположен над поверхностью образца. Поэтому важнейшим параметром является рабочее расстояние объектива, позволяющее изучать элементы, расположенные на разной высоте.

Высокая чувствительность позволяет с максимальной точностью и быстротой проводить диагностику образца.

Подробная информация

Параметры модели OMSYE01

Диапазон измерения, мм	200х150х150 300х200х150 400х300х150	Предметный столик, мм (Алюминиевый)	400х280 500х350 600х500
Предметный столик, мм (Стеклянный)	245х192 350х250 450х350	Максимальная нагрузка, кг	15
Точность измерений по осям Х и Y	(3+L/200)	Точность измерений по оси Z (опционально)	(5+L/200)
Повторяемость	2	Разрешение экрана, мм	0,001
ПЗС-матрица	Цветная камера высокого разрешения: 6,3 млн.пикс. 1/1,8” Интеллектуальная измерительная камера HDMI	Ручная фокусировка	Грубая (40 мм/оборот) и точная (0,02 мм/оборот) регулировка Левая и правая рукоятки Ход по оси Z - 150 мм
Система освещения	Отражение: система освещения Келлера, белые светодиоды 5 Вт Пропускание: белые светодиоды 5 Вт	Поляризатор	Прямое смещение, детектор смещения
Компьютер	8G / 500G / DVD / клавиатура / мышь / +21,5 ЖК-дисплей	ПО	Функции двумерного геометрического измерения включают в себя: измерение расстояния между двумя точками, расстояния от точки до прямой линии, углов, расстояния между центрами кругов, отображение пересечения линий
Калибровка	Вставка поляризатора, вставка, вращающаяся на 360°	Источник питания	90 ~ 240 В, 50 Гц
Масса, кг	320	Дополнительные аксессуары	0,5X интерфейс CTV Дифференциальный интерферометр DIC Объектив 100X (бесконечное светлое поле), 100X / 0.80 WD 2,1 мм (опционально)

Контрольно-измерительная система

Оптическая система	Система с бесконечной коррекцией хроматических аберраций
Тринокулярная наблюдательная трубка	Коэффициент разделения 50 : 50, интерфейс CTV 0,65X
Окуляр	С плоским полем зрения и высокой точкой зрения PL 10X / 22 (с перекрестной шкалой)
Объектив	5X (полупроводниковый объектив светлого поля), 5X/0,15 WD, 44 мм 10X (полупроводниковый объектив светлого поля), 10X/0,3 WD, 34 мм 20X (полупроводниковый объектив светлого поля), 20X/0,35 WD, 29 мм 50X (полупроводниковый объектив светлого поля), 50X/0,5 WD, 17 мм

Стоимость указана:

С учетом НДС.
Без учета доставки от Поставщика к Заказчику.
Без учета затрат на участие в закупочных процедурах по ФЗ 223 и ФЗ 44.
Для 100% предоплаты. В случае необходимости другого способа оплаты, стоимость будет пересчитана.