En
+7 (800) 505-25-16
Контакты:
+7 (800) 505-25-16
+7 (812) 385-58-24
+7 (812) 385-76-48 (факс)


194044, Россия, Санкт-Петербург, Большой Сампсониевский проспект, д. 64, лит. Е, пом. 2-Н


OXLS Специализированные источники света для контроля жидких кристаллов

  • Специализированный источник света для контроля жидких кристаллов
  • Специализированный источник света для контроля жидких кристаллов
Увеличить
  • Специализированный источник света для контроля жидких кристаллов
  • Специализированный источник света для контроля жидких кристаллов
Серия применяется для обнаружения пыли, царапин и других дефектов на поверхности жидких кристаллов и стеклах, что существенно упрощает производственные процессы.

Источники света находят широкое применение в промышленных испытаниях, автоматизации, электронной связи, полупроводниковой электронике, медицинской диагностике, научных исследованиях и других областях.
Модельный ряд
Цвет:
Выберите вариант
Мощность, Вт:
Выберите вариант
Длина излучающей поверхности, мм:
Выберите вариант
Отменить все фильтры
Фото
Модель
OXLS225-R
OXLS225-B
OXLS225-W
OXLS300-R
OXLS300-B
OXLS300-W
Цвет
красный
синий
белый
красный
синий
белый
Мощность, Вт
4,8
6
6
6,8
6,8
6,8
Длина излучающей поверхности, мм
226
226
226
301
301
301
Стоимость с НДС*
по запросу
по запросу
по запросу
по запросу
по запросу
по запросу

  • OXLS225-R
    по запросу

  • OXLS225-B
    по запросу

  • OXLS225-W
    по запросу

  • OXLS300-R
    по запросу

  • OXLS300-B
    по запросу

  • OXLS300-W
    по запросу
Документация
OXLS – Специализированные источники света для контроля жидких кристаллов
664.63 Kb, PDF
Стоимость указана:

  • С учетом НДС.

  • Без учета доставки от Поставщика к Заказчику.

  • Без учета затрат на участие в закупочных процедурах по ФЗ 223 и ФЗ 44.

  • Для 100% предоплаты. В случае необходимости другого способа оплаты, стоимость будет пересчитана.